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电子测试杂志

电子测试杂志

《电子测试》(半月刊)创刊于1978年,由北京自动测试技术研究所主办。北京市科学技术研究院主管,国内外公开发行的科技类专业刊物。 《电子测试》以介绍最新电子技术和测试测量技术为主,秉承一贯的专业性和权威性的办刊宗旨,坚持前瞻性、技术性和实用性的编辑方针,为测试测量及自动控制业界的工程师和技术研发人员提供了全新可靠的技术与应用和行业资讯。《电子测试》创刊于1983年,见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注,而为他们搭建沟通行业信息的平台,开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。目前,众多科研院所、大专院校的科研精英和国内从事微电子行业和电子产品开发的科技人员已成为其忠实的读者群,我们的发行在严格坚持“质量大于数量”的前提下,目前已增加到四万册。
  • 主管单位:北京市科学技术研究院
  • 主办单位:北京自动测试技术研究所
  • 国际刊号:1000-8519
  • 国内刊号:11-3927/TN
  • 出版地方:北京
  • 发行周期:半月刊
  • 创刊时间:1994
  • 影响因子:0.175

期刊名称:电子测试杂志

期刊级别:省级期刊

所属分类:期刊 自然科学与工程技术(+)信息科技电子信息科学综合

电子测试杂志简介

《电子测试》(半月刊)创刊于1978年,由北京自动测试技术研究所主办。北京市科学技术研究院主管,国内外公开发行的科技类专业刊物。 《电子测试》以介绍最新电子技术和测试测量技术为主,秉承一贯的专业性和权威性的办刊宗旨,坚持前瞻性、技术性和实用性的编辑方针,为测试测量及自动控制业界的工程师和技术研发人员提供了全新可靠的技术与应用和行业资讯。《电子测试》创刊于1983年,见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注,而为他们搭建沟通行业信息的平台,开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。目前,众多科研院所、大专院校的科研精英和国内从事微电子行业和电子产品开发的科技人员已成为其忠实的读者群,我们的发行在严格坚持“质量大于数量”的前提下,目前已增加到四万册。

电子测试杂志栏目设置

设计与研发、虚拟仪器技术、微处理器与编程器件的应用、新品评测特集、测试工具与解决方案、新软件、新硬件、产品咨询与行业新闻

电子测试杂志荣誉

万方收录(中) 上海图书馆馆藏 国家图书馆馆藏 知网收录(中) 维普收录(中) 中国期刊全文数据库(CJFD) 中国核心期刊遴选数据库

电子测试杂志投稿须知

一、请在网站投稿或电子邮件投稿。
二、坚持原创性,严禁一稿多投。作者所投稿件须是自己完成的原创作品,且与该稿件内容无实质差别的作品,未曾被其他报纸、期刊、网络平台等公开发表或通知即将公开发表。
三、文章应对已有文献进行学理性梳理和评述,并在正文中明确说明其对本学科的学术贡献,需注重文献评述的逻辑性。
四、倡导研究方法多样化,包括定性与定量研究方法,但所有的研究方法都须遵循严谨的学术规范。
五、编辑部在审稿过程中,若向作者索取文章所用的研究数据,作者应提供这些数据。为了促进知识传播,在文章发表后,若读者向作者索取文章所用的研究数据,作者也应配合提供这些数据;若作者出于合理原因无法提供研究数据时,应详细说明获取这些数据的途径。
六、鼓励作者在投稿文章中阐述该项研究的背景(学术研究背景与政策、现实背景),以及未来研究的可拓展方向。
七、请作者在投稿前按照本刊的投稿格式要求对投稿文章进行核对,并仔细校对文章内容,避免出现语句、词语和文法等常见的错误。投稿文章的格式和文法内容,也将作为审稿依据。

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